Skip links

La microélectronique

WAINVAM-E propose
à la microélectronique

L’industrie électronique doit désormais disposer d’outils précis, aussi bien pour caractériser les circuits, que pour déceler efficacement de potentiels défauts.

La production massive de composants, ainsi que des réglementations strictes en matière d’environnement et d’efficacité énergétique, ont amené la miniaturisation et la compacité des composants, des rendements énergétiques supérieurs, et la densité et la flexibilité accrues de conception de ces composants.

Dans ce très vaste secteur, l’électronique de puissance est particulièrement intéressée par nos capteurs.

La valeur ajoutée des capteurs NV dans ce domaine

Nos capteurs à centres NV, répondent à ces besoins, en proposant une mesure rapide des courants électriques, passant dans le circuit, via la mesure des champs magnétiques induits.

Couplés à des caméras CCD, nos capteurs permettent d’imager ces champs magnétiques, avec une résolution spatiale de l’ordre de 500 nanomètres, ainsi que des courants dans une large gamme de fréquence (DC au GHz).

Ces éléments essentiels et différenciants confèrent à nos capteurs des avantages compétitifs certains, pour contribuer à l’amélioration significative de la phase de conception, de l’efficacité des tests utilisés en phase de production, ainsi que du rendement énergétique.

Nos produits et services
pour la microélectonique

WAINIM-BF Imageur NV en Champ Large

WAINIM-BF est un microscope permettant de cartographier quantitativement le champ magnétique produit par un échantillon millimétrique, avec une résolution optique micrométrique.

Caractérisation de microcircuits

Caractérisation de microcircuits pour les technologies quantiques (puces à atomes, électrodynamique quantique)

Contrôle non destructif